消費(fèi)電子產(chǎn)品和組件的耐光性和耐候性測(cè)試正在迅速增長(zhǎng)。更多類(lèi)型和更多數(shù)量的產(chǎn)品是可移動(dòng)的，并且會(huì)暴露于各種光源下，例如直射陽(yáng)光和不同的氣候條件。消費(fèi)電子OEM商關(guān)心保持其品牌形象并滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)質(zhì)量的期望。這不僅包括可能會(huì)受到環(huán)境負(fù)面影響的功能性能，還包括顏色和外觀(guān)以及機(jī)械和物理特性。因此，主要的OEM要求在新材料和新設(shè)計(jì)上進(jìn)行耐環(huán)境性耐光性或耐候性測(cè)試，以及在產(chǎn)品生命周期中對(duì)其整個(gè)供應(yīng)鏈進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試。

在各種條件下，例如在冷凍溫度下的跌落測(cè)試，這種類(lèi)型的耐用性測(cè)試與運(yùn)行和“酷刑”測(cè)試是分開(kāi)的。相反，環(huán)境耐久性測(cè)試有助于確定在預(yù)期使用條件下過(guò)早磨損的材料問(wèn)題，以及生產(chǎn)生命周期中的供應(yīng)鏈問(wèn)題。幾家主要的消費(fèi)電子公司現(xiàn)在要求在其供應(yīng)鏈中對(duì)材料和產(chǎn)品組件進(jìn)行耐光性/耐候性測(cè)試。

可以設(shè)想幾種級(jí)別的消費(fèi)電子產(chǎn)品和測(cè)試要求，每種級(jí)別都有自己*的測(cè)試解決方案：

l 主要用于室內(nèi)使用的產(chǎn)品，例如VR耳機(jī)和游戲機(jī)

l 在正常干燥的條件下可能會(huì)暴露在室外的設(shè)備，例如智能手機(jī)

l 健身追蹤器，運(yùn)動(dòng)相機(jī)和無(wú)人機(jī)等通常在戶(hù)外使用且可能會(huì)弄濕的物品

l 適用于連續(xù)戶(hù)外暴露的產(chǎn)品，例如安全攝像機(jī)和戶(hù)外娛樂(lè)系統(tǒng)

l 在特殊環(huán)境（例如汽車(chē)內(nèi)飾）中可能會(huì)全部或部分暴露的設(shè)備

可以避免的一些問(wèn)題包括：

l 塑料，橡膠和彈性體零件發(fā)黃，破裂，褪色

l 裝飾性和功能性涂料的剝離，分層，外觀(guān)變化

l LCD和OLED的光降解顯示有機(jī)化學(xué)像素元素

l 電連接器等金屬的腐蝕

l 太陽(yáng)熱負(fù)荷對(duì)有源電子器件和形狀配合功能特性的影響

后，關(guān)于OLED顯示器和照明的特別說(shuō)明，尤其是智能手機(jī)中使用的AMOLED顯示器。由于當(dāng)前材料和生產(chǎn)技術(shù)的相對(duì)較低的產(chǎn)量和批次差異性，在OLED研發(fā)和制造工廠(chǎng)中普遍使用Atlas Ci系列氙弧燈儀器以接受生產(chǎn)批次。

解決方案

對(duì)光，熱和濕氣影響的環(huán)境暴露測(cè)試大多在基于氙弧燈技術(shù)的專(zhuān)門(mén)實(shí)驗(yàn)室暴露測(cè)試儀器中進(jìn)行。通過(guò)適當(dāng)選擇濾光片，可以將樣品暴露在人造全光譜直射陽(yáng)光下，通過(guò)車(chē)窗玻璃或汽車(chē)玻璃過(guò)濾的陽(yáng)光下或人造室內(nèi)照明下。溫度，包括試樣的測(cè)試表面溫度和濕度，以及相對(duì)濕度或噴水，可以*模擬特定的室外，室內(nèi)，汽車(chē)內(nèi)部或其他氣候條件。這些耐用性測(cè)試解決了長(zhǎng)期暴露于使用中環(huán)境應(yīng)力下而導(dǎo)致的材料降解，并且不同于所使用的許多加速可靠性和“酷刑測(cè)試”。

在Atlas Ci系列氙弧耐候測(cè)光表中，大多數(shù)較小的消費(fèi)電子設(shè)備和組件（包括材料測(cè)試板和試樣或從較大產(chǎn)品上切下的部分）大多暴露在外，以提高耐光性和耐候性  。這些是有可能在消費(fèi)電子OEM R＆D和供應(yīng)鏈質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室中找到或的工具。Xenotest系列儀器也可以使用，特別是用于較小材料的測(cè)試試樣和樣板。Ci系列和Xenotest  儀器均具有旋轉(zhuǎn)的樣品架，可將樣品移至熱/光/濕環(huán)境中，以提供產(chǎn)品驗(yàn)收測(cè)試所需的高度均勻的暴露。

該SUNTEST XXL + 平板模型可用于測(cè)試3D尺寸比旋轉(zhuǎn)機(jī)架儀器中容納的產(chǎn)品更多的產(chǎn)品。所述UVTest  是有或沒(méi)有縮合或噴水熒光太陽(yáng)燈裝置，其是用于測(cè)試已知是僅在太陽(yáng)能UV光譜的下部敏感薄，扁平的樣品有用; 否則，建議使用全光譜氙弧技術(shù)，尤其是在預(yù)測(cè)顏色和外觀(guān)變化時(shí)。

當(dāng)前沒(méi)有專(zhuān)門(mén)針對(duì)消費(fèi)電子產(chǎn)品的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，但是一些主要的OEM已建立了自己的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。雖然可以使用一些通用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，例如塑料和涂料標(biāo)準(zhǔn)，但對(duì)電子產(chǎn)品（可能正在運(yùn)行）的測(cè)試通常需要特殊條件。Atlas針對(duì)各種情況創(chuàng)建了一系列推薦的測(cè)試參數(shù)，可以根據(jù)需要使用或修改它們。 

連接器和金屬涂層等金屬部件在Atlas SF，BCX  和CCX  系列腐蝕測(cè)試腔中進(jìn)行了耐久性測(cè)試。腐蝕測(cè)試服務(wù)可在Atlas的芝加哥地區(qū)實(shí)驗(yàn)室獲得。 

還可以在亞熱帶邁阿密或美國(guó)亞利桑那州索諾蘭沙漠的Atlas戶(hù)外暴露測(cè)試地點(diǎn)，或我們?cè)诿绹?guó)亞利桑那州的20多個(gè)地點(diǎn)中的任何地方，進(jìn)行不同位置的戶(hù)外暴露測(cè)試，尤其是對(duì)于長(zhǎng)久性戶(hù)外電子產(chǎn)品（例如娛樂(lè)系統(tǒng)）的戶(hù)外暴露測(cè)試。我們的暴露網(wǎng)絡(luò)。在EMMA / EMMAQUA  加速的室外耐候設(shè)備中，某些材料也可以在集中的自然陽(yáng)光下暴露。

大型設(shè)備的實(shí)驗(yàn)室暴露測(cè)試可以在Atlas的DSET Laboratories Arizona設(shè)施的大型太陽(yáng)能/環(huán)境艙中進(jìn)行，氙弧和更大產(chǎn)品的太陽(yáng)能/環(huán)境艙測(cè)試都可以在Atlas的美國(guó)芝加哥地區(qū)德國(guó)商業(yè)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行。通過(guò)適當(dāng)?shù)臏y(cè)試，可以避免風(fēng)險(xiǎn)。